檢測反射位置并測量其強度

AQ7420可以精確檢測光連接器和模塊內的反射量和位置。它揭示標準損耗測量可能漏失的微裂紋，幫助避免不可預測和潛在有害的故障，這在受運動、振動和熱循環影響的苛刻環境中尤為重要。與可選的傳感器頭單元配對時，它還可以同時測量插入損耗，使AQ7420成為檢查光連接器及模塊的理想多用途儀器。

虛假噪聲降低

在一些常規反射計中，假噪聲可能會在沒有實際反射的區域虛假出現。波形分析通常需要用戶對這種現象有專門的知識。AQ7420大大減少了假噪聲并簡化了分析。

• 測量距離:100毫米（約4英寸）

• 空間分辨率:40μm

• 虛假噪聲:?100分貝可避免虛假（鬼魅）效果

同時測量多重反射和插入損耗

傳統上，由于垂直軸（背反射）的測量精度差，反射計不足以檢測反射衰減。AQ7420的測量不確定度為±3dB，使用光學傳感器頭，可以同時測量連接器連接損耗，不確定度達到±0.02 dB。

光學連接器微裂紋分析

AQ7420同時測量光連接器的斷裂、裂紋、損耗和反射。

光學連接器微裂紋測量實例（高靈敏度范圍）

高分辨率反射計 AQ7420 用于光連接器和光模塊的質量檢查 檢測反射位置和測量反射量 AQ7420 可準確檢測光連接器和模塊內反射的數量和位置。它揭示了標準損耗測量可能遺漏的微裂紋，有助于避免不可預測和潛在的有害故障，這在受運動、振動和熱循環影響的苛刻環境中尤為有價值。當與可選的傳感器頭單元配對時，它還可以同時測量插入損耗，使 AQ7420 成為檢測光連接器和模塊的理想多用途儀器。特點 - 測量距離：100毫米（約4英寸） - 空間分辨率：40微米 - 雜散噪聲：-100 dB，避免了假（鬼）效應 - 同時測量多重反射和插入損耗 應用 - 檢測關鍵通信基礎設施中使用的光連接器中的微裂紋，如： - 數據中心 - 海底光纖鏈路 - 蜂窩塔 （FTTA） - 空間衛星鏈路 - 精確定位光學設備中內部反射的位置和強度例如：- 用于通信的硅光子學 - TOSA/ROSA

項目規格 測量波長 ?13NN：1310 nm，?1315：1310 nm / 1550 nm 測量距離范圍*1 100 mm 距離采樣分辨率*1 1、4、8 μm 空間分辨率*2、*3 40 μm 或更低 距離測量重復性*4、*6 50 μm 或更低 背向反射測量范圍 標準范圍：-14.7 至 -85 dB，高靈敏度范圍： ?50 至 ?100 dB 背向反射測量不確定度 *2， *5， *6， *7 正常范圍：±3 dB（?14.7 至 ?85 dB） 高靈敏度范圍：±3 dB（?50 至 ?90 dB）、±5 dB（?90 至 ?100 dB） 雜散噪聲*8 正常范圍：?85 dB 或更低*9 高靈敏度范圍：?100 dB 或更低*10 測量時間*11 約 6 秒 適用光纖 SMF （ITU-T G.652） 主絲 SMF （ITU-T G.652）， FC/PC 或 SC/PC 連接器 功能 通過控制軟件 性能保證環境*12、*13 18 至 28°C、參考后 ±2°C、20 至 70%RH、無冷凝

操作環境 10 至 40°C、20 至 70%RH（28°C 以下）、20 至 50%RH（35°C 以下）、20 至 35%RH 或更低（40°C 以下）、無冷凝 儲存環境 ?10 至 50°C、20 至 80%RH（40°C 以下）、20 至 40%RH（50°C 以下）、無冷凝 電源要求 100 至 240 VAC， 50/60 Hz、120 VA 或更低（AC 適配器） 尺寸和質量*14 430 （W） × 132 （H） × 350 （D） mm（不包括保護器和手柄），大約。8 kg 激光安全標準 EN 60825-1：2014+A11：2021、IEC 60825-1：2014、GB/T 7247.1-2023 1 類 建議校準周期 1 年 標準附件 主控線、繼電器線、FC 適配器、距離調節線、USB 線、控制軟件 （CD）、交流適配器 控制軟件 主要功能 光回波損耗分布波形、反射點位置、光學反射損耗顯示、 判斷波形縮放、標記功能等 推薦 PC*15 CPU：CORE i5,2 GHz 或更高，64 位，操作系統：Windows11，RAM：8 GB 或微塵，存儲空間：1 GB 或更高，顯示分辨率：1920 × 1080 點或更高，USB2.0 或更高。

*所有規格均在測量條件下預熱 1 小時后和 REF 后。*產品規格為波長設置為 1310 nm 時的情況。*1 折射率為 1.467 時（從連接的光纖jian端開始） *2 測量距離 0 mm *3 反射光脈沖波形的一半值寬度。*4 在溫度為 23°C 至 24°C 的空調房中，不包括因溫度引起的光纖膨脹的影響，當穩定性模式開啟時。*5 移動光纖時，回波損耗值可能會波動最多約 3 dB。*6 2 *7 平均 1 次（?14.7 dB 至 ?90 dB），如果小于 ?90 dB，則平均 5 倍。*8 由于設備特定特性而產生的偽反射波形。*9 測量偽反射光量時 ?20 dB（0 mm 位置），平均 5 倍。*10 測量偽反射光量時 ?50 dB（0 mm 位置），平均 5 倍。*11 測量距離 100 mm，距離測量樣品分辨率 8 μm，高靈敏度范圍：-50 至 -100 dB，平均 1 倍，因 PC 操作環境而異。*12 無溫度突變 （±10°C/h）。*13 涵蓋的規格：背向反射測量不確定度、距離測量可重復性、雜散噪聲。*14 不包括附件。*15 不包括用于控制的個人計算機。請準備一臺具有推薦規格或更高版本的個人電腦。